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C测试仪 日本日置 HIOKI

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产品名称: C测试仪 日本日置 HIOKI
产品型号: 3505/ 3506
产品展商: HIOKI
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简单介绍

3505/ 3506 C测试仪 日本日置 HIOKI


C测试仪 日本日置 HIOKI  的详细介绍
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
  • 反复测量精度更高,*适合生产线
  • 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响
  • 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能
  • 比较器的设定值和测定值的同步显示
  • 2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量
  • 根据BIN的测定区分容量
  • 比测仪和触发器同步输出功能
基本参数
测量参数 C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围 C:0.001fF~15.0000μF
D: 0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9
基本精度 代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
测量频率 3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz
测量信号电平 500mV, 1V rms
输出电阻 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程, 在100 kHz 时22 nF 以上量程)
显示 LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间 代表值: 2.0 ms (FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大40VA
体积及重量 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1

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